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納米級薄膜工藝突破:新型貼片電阻耐壓值提升300%的秘密

文章出處:行業新聞 網責任編輯: 東莞市平尚電子科技有限公司 閱讀量: 發表時間:2025-02-13 11:43:12

納米級薄膜工藝突破:新型貼片電阻耐壓值提升300%的秘密

東莞平尚電子科技有限公司改寫高壓電路設計規則


——平尚電子原子層沉積技術開啟高壓電路新紀元


ALD鍍膜

![ALD鍍膜設備工作實景]


2024年第三方檢測報告顯示:采用納米薄膜工藝的貼片電阻耐壓值突破3kV,較傳統工藝提升3倍,填補國內車規級高壓電阻技術空白。


行業痛點:傳統工藝的物理極限

在電動汽車OBC(車載充電機)、光伏逆變器等高壓場景中,0402封裝電阻的耐壓性能長期受制于:


慢鏡頭展示擊穿對比


電極邊緣場強集中(>10<sup>6</sup> V/m)引發介質擊穿

晶界缺陷導致漏電流指數級增長(@800V工況)

熱應力開裂(>200℃溫差循環)


平尚電子通過原子層沉積(ALD)技術重構電阻微觀結構,實現耐壓性能革命性突破。


三大核心技術突破


1. 三維納米包覆鍍膜

鍍層結構:Al<sub>2</sub>O<sub>3</sub>/TiO<sub>2</sub> 交替堆疊(單層厚度0.3nm)

性能提升:

介質擊穿場強:從15MV/m提升至45MV/m

漏電流抑制:@1kV時降低至0.1nA(傳統工藝10μA)



納米包覆結構TEM顯微照片

(圖1:納米包覆結構TEM顯微照片)



2. 梯度摻雜電極技術

材料體系:NiCr-AlN-Mo多層復合結構

關鍵參數:

電阻溫度系數:±25ppm/℃(-55℃~175℃)

抗電遷移能力:10<sup>5</sup> A/cm<sup>2</sup>(IEC 60115標準)



3. 晶界工程優化

采用等離子體輔助晶界鈍化工藝

晶粒尺寸從微米級細化至50-80nm

晶界缺陷密度降低92%(EBSD測試結果)


實測數據對比(0402封裝/100kΩ/1%)

實測數據對比)


典型應用場景

案例一:電動汽車800V快充模塊

挑戰:傳統電阻在650V時失效率>5%


平尚方案

采用PSH-HV系列納米薄膜電阻

實測耐壓值:3500V(持續1分鐘無擊穿)

模塊體積縮小40%,效率提升至98.7%


平尚科技文章lgo


案例二:光伏組串式逆變器

痛點:1500V系統電弧檢測誤觸發

解決效果:

漏電流<5μA(EN 50530標準)

MTBF(平均無故障時間)突破25年



技術生態布局


1. 設備自主化

聯合中微半導體開發國產ALD鍍膜設備

鍍膜均勻性:±1.5%(優于國際同類設備)


2. 標準制定

主導起草《T/CESA 1205-2025 納米薄膜貼片電阻技術規范》

通過AEC-Q200 Rev.G、UL 94 V-0認證


3. 產能規劃

2025年建成納米薄膜電阻超級工廠

設計產能:50億顆/年(高壓型號占比60%)


工業1


產業影響與市場前景

成本優勢:量產價格僅為進口同類產品65%

供應鏈安全:關鍵材料國產化率100%

市場預測:2026年全球高壓貼片電阻市場規模達22億美元(Yole數據)

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